● LCR 측정, DCR 측정, 스윕 측정의 연속 측정과 고속 검사를 1대로 실현
● LCR 모드에서 최속 1.5 ms(1 kHz) 및 0.5 ms (100 kHz)의 고속 측정
● 기본 정확도 ± 0.08 %의 고정밀도 측정
● 압전 소자의 공진 특성 검사, 기능성 고분자 콘덴서의 C-D와 저 ESR 측정, 인덕터(코일ㆍ트랜스)의 DCR와 L-Q 측정 등에 최적
● 아날라이저 모드로 주파수 스윕 측정, 레벨 스윕 측정, 타임 인터벌 측정이 가능